Röntgendiffraktometer (XRD)PANalytical
X’Pert PRO MPD
Röntgendiffraktometer (XRD)
PANalytical
X’Pert PRO MPD
Festpreis zzgl. MwSt.
13.500 €
Zustand
Gebraucht
Standort
Borken 

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Daten zur Maschine
- Maschinenbezeichnung:
- Röntgendiffraktometer (XRD)
- Hersteller:
- PANalytical
- Modell:
- X’Pert PRO MPD
- Zustand:
- gebraucht
Preis & Standort
Festpreis zzgl. MwSt.
13.500 €
- Standort:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland

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Details zum Angebot
- Inserat-ID:
- A19531791
- Referenznummer:
- 24688
- Aktualisierung:
- zuletzt am 10.07.2025
Beschreibung
PANalytical
PANalytical X’Pert PRO MPD Röntgendiffraktometer (XRD)
Auszug aus dem Servicebericht:
Gerät: PANalytical X’Pert PRO MPD
Erstellt am: 07.07.2021
Durchgeführte Arbeiten:
- Wiederaufstellung und Inbetriebnahme des Systems
- Anschluss externer Versorgungsleitungen
- Aufwärmphase
- Komplette Justage von Goniometer und weiteren Komponenten
- Durchführung von Wartung inkl. Austausch defekter Teile
Verwendete Ersatzteile:
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERY. NI-CD
FAN FOR X-CELERATOR UNIT FAN
FILTER FILTER, WATER
Motor PW3050
(„Gerät wurde nicht bei uns im Haus getestet“)
Das X’Pert PRO MPD ist ein sehr vielseitiges und leistungsstarkes Röntgendiffraktometer (XRD)
zur strukturellen Charakterisierung kristalliner Materialien.
– perfekt für reine Forschung ebenso wie für Routineanwendungen in Industrie
und Universität. Dank seiner modularen Bauweise, schnellen Detektion, Temperatur und
Atmosphärensteuerung ist es sowohl für Routineanalysen als auch für komplexe
In-situ-Experimente hervorragend geeignet.
Wichtige Merkmale:
Unterschiedliche Messgeometrien möglich:
Reflexion im Bragg-Brentano (θ–2θ)-Modus
Transmissionsgeometrie für Pulver in Kapillaren
Optional auch SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) für Nanostrukturen
Strahlungsquelle und Detektoren:
Meist Kupfer-Anode (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å)
X’Celerator-Detektor (1D, ultraschnell) für parallele Datenerfassung
Modulares System mit PreFIX-Technologie:
Schneller Wechsel von Optiken und Probenbühnen ohne Neukalibrierung
In-situ Messungen bei hohen Temperaturen:
Messungen bis ca. 1200°C möglich
Kontrollierte Atmosphäre: Luft, Stickstoff, Sauerstoff (reduzierend eingeschränkt)
Typische Anwendungen:
Phasenanalyse und quantitative Rietveld-Auswertung
Bestimmung von Kristallitgröße, Mikrodeformation, Eigenspannungen
Pedswycatjpfx Aafjgw
In-situ-Untersuchung von Phasenübergängen, Oxidation, Kristallisation etc.
SAXS-Messungen zur Analyse von Nanopartikeln, Porenstrukturen
Breites Probenspektrum: Pulver, Dünnschichten, Keramiken,
Pharmazeutika, Katalysatoren u.v.m.
Technische Daten (typisch)
Eigenschaft u. Spezifikation
Winkelbereich (20) ca. 0,5° bis 150°
Schrittweite bis zu 0,002° oder feiner
Goniometer Vertikal, 0–0, Radius ca. 240 mm
Temperaturbereich Raumtemperatur bis ca. 1200 °C
Atmosphäre Luft, N₂, O₂ (reduzierend eingeschränkt)
Detektoren X’Celerator (1D), Proportionalzähler
Verbreitung & Einsatzorte:
Das X’Pert PRO MPD ist weltweit im Einsatz, z. B. an:
Universitäten (ETH Zürich, TU Dresden, Uni Wien)
Forschungsinstitute (z. B. Max-Planck-Institute, ICN2, IS2M)
Industrie (z. B. Materialentwicklung, Pharma, Chemie)
Zustand: gebraucht / used
Lieferumfang: (Siehe Bild)
(Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)
Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.
PANalytical X’Pert PRO MPD Röntgendiffraktometer (XRD)
Auszug aus dem Servicebericht:
Gerät: PANalytical X’Pert PRO MPD
Erstellt am: 07.07.2021
Durchgeführte Arbeiten:
- Wiederaufstellung und Inbetriebnahme des Systems
- Anschluss externer Versorgungsleitungen
- Aufwärmphase
- Komplette Justage von Goniometer und weiteren Komponenten
- Durchführung von Wartung inkl. Austausch defekter Teile
Verwendete Ersatzteile:
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERY. NI-CD
FAN FOR X-CELERATOR UNIT FAN
FILTER FILTER, WATER
Motor PW3050
(„Gerät wurde nicht bei uns im Haus getestet“)
Das X’Pert PRO MPD ist ein sehr vielseitiges und leistungsstarkes Röntgendiffraktometer (XRD)
zur strukturellen Charakterisierung kristalliner Materialien.
– perfekt für reine Forschung ebenso wie für Routineanwendungen in Industrie
und Universität. Dank seiner modularen Bauweise, schnellen Detektion, Temperatur und
Atmosphärensteuerung ist es sowohl für Routineanalysen als auch für komplexe
In-situ-Experimente hervorragend geeignet.
Wichtige Merkmale:
Unterschiedliche Messgeometrien möglich:
Reflexion im Bragg-Brentano (θ–2θ)-Modus
Transmissionsgeometrie für Pulver in Kapillaren
Optional auch SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) für Nanostrukturen
Strahlungsquelle und Detektoren:
Meist Kupfer-Anode (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å)
X’Celerator-Detektor (1D, ultraschnell) für parallele Datenerfassung
Modulares System mit PreFIX-Technologie:
Schneller Wechsel von Optiken und Probenbühnen ohne Neukalibrierung
In-situ Messungen bei hohen Temperaturen:
Messungen bis ca. 1200°C möglich
Kontrollierte Atmosphäre: Luft, Stickstoff, Sauerstoff (reduzierend eingeschränkt)
Typische Anwendungen:
Phasenanalyse und quantitative Rietveld-Auswertung
Bestimmung von Kristallitgröße, Mikrodeformation, Eigenspannungen
Pedswycatjpfx Aafjgw
In-situ-Untersuchung von Phasenübergängen, Oxidation, Kristallisation etc.
SAXS-Messungen zur Analyse von Nanopartikeln, Porenstrukturen
Breites Probenspektrum: Pulver, Dünnschichten, Keramiken,
Pharmazeutika, Katalysatoren u.v.m.
Technische Daten (typisch)
Eigenschaft u. Spezifikation
Winkelbereich (20) ca. 0,5° bis 150°
Schrittweite bis zu 0,002° oder feiner
Goniometer Vertikal, 0–0, Radius ca. 240 mm
Temperaturbereich Raumtemperatur bis ca. 1200 °C
Atmosphäre Luft, N₂, O₂ (reduzierend eingeschränkt)
Detektoren X’Celerator (1D), Proportionalzähler
Verbreitung & Einsatzorte:
Das X’Pert PRO MPD ist weltweit im Einsatz, z. B. an:
Universitäten (ETH Zürich, TU Dresden, Uni Wien)
Forschungsinstitute (z. B. Max-Planck-Institute, ICN2, IS2M)
Industrie (z. B. Materialentwicklung, Pharma, Chemie)
Zustand: gebraucht / used
Lieferumfang: (Siehe Bild)
(Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)
Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.
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