Rasterelektronenmikroskop gebraucht kaufen (6)

Zustand: sehr gut (gebraucht), Funktionsfähigkeit: voll funktionsfähig, Zum Verkauf steht ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop der Marke Zeiss und des Typs 40 VP mit Gemini Optik Die Anlage wird Komplett mit Computer, Software und Kühlung verkauft Technische Daten: Windows Oberfläche: XP Professional System: Oxford AZtec aus 2017 Carl Zeiss Supra 40VP Gemini Optik Panasonic CCTV Camera WV-BP332EE EDWARDS Ölfreier trockenlaufender Scroll-Pumpe EDX-Detektor STEM-Detektor Maximale Auflösung: 1 nm Vergrößerungsbereich: 12x - 900.000x Beschleunigungsspannung: max. 30 kV Software: SmartSEM Zeiss bietet noch bis einschließlich Oktober 2025 Support für dieses Gerät an Auf Wunsch kann Transport und Verladen, gegen Aufpreis. Europaweit organisiert werden. Fedpfx Aevb Hwyobmjpb Preise zzgl Mehrwertsteuer Besichtigung nach Terminvereinbarung möglich. Kontaktieren Sie uns, unser Team freut sich Ihnen weiterhelfen zu dürfen. Inzahlungnahme oder Tausch möglich! Maschinen An- / Verkauf KAUF / VERKAUF VON PRODUKTIONS- & METALLBEARBEITUNGSMASCHINEN UVM. Sie benötigen eine hochwertige, aber preiswerte Metallbearbeitungsmaschine für Ihre Fertigung? Oder wollen Sie Ihre verkaufen? Für weitere Infos- oder Kontaktmöglichkeiten besuchen Sie uns auf unserer Webseite

Zustand: sehr gut (gebraucht), Typ: Jeol JSM-6490 Jeol JSM-6490 Rasterelektronenmikroskop (PC-SEM) Modernes, hochauflösendes, digitales Rasterelektronenmikroskop mit neuentwickelter Elektronenoptik und intuitiver, graphischer Benutzeroberfläche (GUI) unter Microsoft Windows XP Professional. Geräteausstattung einschließlich folgender Ausstattungsmerkmale: Vergrößerungsbereich: 5 X - 300.000 X Beschleunigungsspannung 0.3 - 30 kV Wolframhaarnadel-Kathode (LaB6-Kathode optional) großer vollmotorisierter Probentisch mit exzentrischer Kippung, inkl. Graphische Navigation auf dem Probenhalter Einfache Probennavigation durch Click-Center-Zoom Bildfeldgesteuerte Navigation über 2 Navigatoren Relative Koordinaten-Navigation Speichern und Wiederanfahren von Probenpositionen Einstellbares Bildausschnittverfahren der Probebühne Blldfeldkorrektur während der Rotation über rechnergesteuerte exzentrische Rotation Bildfeldkorrektur während der Kippung über rechnergesteuerte exzentrische Kippung Berechnung des möglichen Kippwinkels anhand der Probengeometrie Automatisches Fokus-Nachführen bei Verfahren der Probe in Z-Richtung Intelligente Limit Schalter für die motorisierten Achsen Verfahrweg Probentisch: x=125mm Y=100mm z = 5 bis 80 mm (stufenlos) T = -10°C bis+ 90°C R= 360°C (endlos) Sekundärelektronen-Detektor für Hochvakuumbetrieb Neuartige, superkonische Objektivlinse garantiert höchste Bildauflösung auch bei großen Kippwinkeln Garantierte Auflösung Im SE-Bild: 3 nm bei 30 kV und 15 nm bei 1 kV Gleichzeitige Live-Bilddarstellung mehrerer Detektoren Einfache Probennavigation durch Click-Center-Zoom Leistungsfähige Funktionen zur Bildvermessung Movie-Funktion zur Aufnahme dynamischer Prozesse Vielseitige Probenkammer mit zahlreichen Erweiterungsmöglichkeiten: freie Flansche z. B. für EDX, WDX, EBSD, Kathodolumineszenz etc. Wartungs- und verschleißarmes, leises Pumpsystem bestehend aus Vorpumpe, vibrationsfreier hochleistungsdiffusionspumpe sowie elektromagnetischer Ventilsteuerung Umfangreiche Fehlerabsicherung gegen Fehlbedienung und Ausfall externer Medien Ergonomischer, höhenverstellbarer Systemtisch REM-Starterkit bestehend aus 2 Probenhaltern, Werkzeugsatz sowie 6 Ersatzkathoden Zusatzausstattung für Rasterelektronenmikroskop Turbomolekularpumpe anstelle der serienmäßigen Diffusionspumpe Bei Verwendung einer Turbomolekularpumpe wird für den Betrieb des REM kein Kühlwasser mehr benötigt. Weitere REM-Ausstattung: PC zur Steuerung des REMs inkl. TFT-Monitor ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-System EXTENDED Bruker EDX Software wird nach Kauf an den neuen Eigentümer übertragen! Stickstofffreies, energiedispersives Röntgenanalysesystem inkl.: SDD-Detektor mit 127 eV oder besserer Energieauflösung Nachweis aller Elemente ab Bor Vibrationsfrei, wartungsfrei. Peltier gekühlt (stickstofffrei) Pulsprozessor TFT-Monitor Spektren Messung und Elementidentiflzlerung Vollautomatische, quantitative, standardfreie Elementanalyse Bildeinzug Superschnelles qualitatives Line Scan Fjdpsmn Rcqefx Abmjpb Superschnelles qualitatives Elementmapping Datenmanagment und -archivierungssystem Reporterstellung und Ergebnisausgabe Datenkommunikation Installation und Einweisung HyperMap Multipoint Analyse Bruker xFlash Detektor (SDD) mit Signalverarbeitungseinheit SVE III Lieferumfang: (Siehe Fotos) Zustand: gebraucht / used (Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)

Baujahr: 2022, Zustand: wie neu (Ausstellungsmaschine), Funktionsfähigkeit: voll funktionsfähig, Beschreibung (genaue Ausstattung): o 5-Achsen-Stage o Moderne, erweiterbare Nutzeroberfläche mit EDX-Integration und Bildmontage o SE-Detektor o Szintillator-BSE-Detektor (rückziehbar) Fpedpjxzqw Tjfx Abmjb o In-Lens-Detektor o Niedervakuum-System mit BSE-Dektor (rückziehbar) o Vollständig software-integriertes JEOL-EDX-System (60mm²) o In-Column-Strommessung o Navigationskamera o Live-Kamera o Bedienpult o Schreibtisch, PC mit Windows OS, 2 x 24“ Monitor, Keyboard

Zustand: neuwertig (gebraucht), Baujahr: 2024, Funktionsfähigkeit: voll funktionsfähig, Rasterelektronenmikroskop vom Typ Zeiss XB 350 Ausstattung & Zubehör • ohne FIB-Säule • SmartSEM- und SmartFIB-Software • GIS mit Pt-Präkursor • integrierter Plasma Cleaner • EDX Oxford Xplore 30 (inkl. Interface & Software) • automatische 200 mm Schleuse • elektrische Durchführung (2 x 15 Kanäle) • Umwälzkühler • Quiet Mode Vakuumpuffertank Fpsdpfew Rdvvox Abmob • ... sowie Tisch, Bildschirm, Bedienkonsolen (Zeiss-proprietäre Tastatur + Joystick) und div. Probenhalter Inbetriebnahme: August 2024 Standort: Mainz Verfügbarkeit: nach Absprache kurzfristig verfügbar. Das Gerät ist noch in Betrieb und kann gerne besichtigt und vorgeführt werden. Das Gerät weist keinerlei Mängel oder Macken auf und ist uneingeschränkt funktionstüchtig. Weitere Informationen gerne auf Anfrage!

Zustand: gebraucht, Zeiss Typ: EVO 50 XVP Die Instrumente der EVO-Produktfamilie kombinieren leistungsstarke Rasterelektronenmikroskopie mit einem intuitiven Bedienkonzept, das für erfahrene Anwender und Neulinge gleichermaßen gut geeignet ist. Fsdpfx Asvvtnbobmepb EVO kann dank seiner umfangreichen Optionen präzise auf Ihre Anforderungen abgestimmt werden, unabhängig davon, ob Sie im Bereich Biowissenschaften oder Materialwissenschaften oder in der routinemäßigen industriellen Qualitätskontrolle und Fehleranalyse tätig sind. Rasterelektronenmikroskop EVO 50 XVP, EDX von Oxford  Xplore 30 SDD-Detektor ohne N-Kühlung 05 / 2021 Maße: TxLxH 930 x 1930 x 1600 mm 30mm 2 Sensorgröße / Auflösung 129MnKa bei 100.000cps Von Bor - Califonium Software AZtec lite auf Windows 10 Mit Drift korrektur Analyser quali- quanti-Analyse Point ID Mapping Line-Scan Dämpfungsystem inklusive jeder Behälter trägt 116kg/bar Betriebsstunden ca. 11.500 Std PC-Upgrade auf Windows 10  05/2021 Das Rasterelektronenmikroskop ist voll funktionsfähig. Gewicht 750 kg + 385 kg +150 kg Zustand: gebraucht / used (Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!) Bitte erfragen Sie vor Kauf die Transportmöglichkeiten. Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.

Baujahr: 2024, Zustand: wie neu (Ausstellungsmaschine), Funktionsfähigkeit: voll funktionsfähig, Das JCM-7000 verknüpft einfachste Probennavigation mit einer Vielzahl fortschrittlicher Autofunktionen. Eine große Probenkammer, hohe Auflösung und ein zuschaltbarer Niedervakuummodus für nichtleitende Proben machen das Desktop-REM zu einem mobilen Allround-Talent. Eigenschaften: • SE-/BSE-Detektion • Vergrößerung bis x100.000, Auflösung ca. 8nm • Niedervakuum-Betrieb für nicht-leitfähige Proben • Hard- und Software-integriertes EDX-System zur Elementcharakterisierung • Live-Elementanalyse, Live-Abbildung (inkl. 3D-Abbildung / Topographie) • Intuitive Bedienung mit Rezepten, Autofunktionen, Bildmontagen, etc. • Große Kammer für Proben bis 80mm ∅ bzw. 50mm Höhe • Kompakt & mobil Fsdpfxsxzqr De Abmjpb • Maße (Main Unit): 324 mm W x 586 mm D x 566 mm H