Rasterelektronenmikroskop gebraucht kaufen (6)

Zustand: sehr gut (gebraucht), Zeiss Typ: EVO 50 Die Instrumente der EVO-Produktfamilie kombinieren leistungsstarke Rasterelektronenmikroskopie mit einem intuitiven Bedienkonzept, das für erfahrene Anwender und Neulinge gleichermaßen gut geeignet ist. EVO kann dank seiner umfangreichen Optionen präzise auf Ihre Anforderungen abgestimmt werden, unabhängig davon, ob Sie im Bereich Biowissenschaften oder Materialwissenschaften oder in der routinemäßigen industriellen Qualitätskontrolle und Fehleranalyse tätig sind. Rasterelektronenmikroskop EVO 50, EDS von Oxford Ultim Max 100 SDD-Detektor 09 / 2019 Maße: TxLxH 930 x 1930 x 1600 mm 100 mm² Sensorgröße / 130.000cps Gewicht: ca. 750 kg Zustand: gebraucht / used (Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!) Bitte erfragen Sie vor Kauf die Transportmöglichkeiten. Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten. Kdodjvxubhspfx Abxow

Zustand: neuwertig (gebraucht), Baujahr: 2024, Funktionsfähigkeit: voll funktionsfähig, Rasterelektronenmikroskop vom Typ Zeiss XB 350 Ksdpfx Absw Rdvvsxsdw Ausstattung & Zubehör • ohne FIB-Säule • SmartSEM- und SmartFIB-Software • GIS mit Pt-Präkursor • integrierter Plasma Cleaner • EDX Oxford Xplore 30 (inkl. Interface & Software) • automatische 200 mm Schleuse • elektrische Durchführung (2 x 15 Kanäle) • Umwälzkühler • Quiet Mode Vakuumpuffertank • ... sowie Tisch, Bildschirm, Bedienkonsolen (Zeiss-proprietäre Tastatur + Joystick) und div. Probenhalter Inbetriebnahme: August 2024 Standort: Mainz Verfügbarkeit: nach Absprache kurzfristig verfügbar. Das Gerät ist noch in Betrieb und kann gerne besichtigt und vorgeführt werden. Das Gerät weist keinerlei Mängel oder Macken auf und ist uneingeschränkt funktionstüchtig. Weitere Informationen gerne auf Anfrage!

Baujahr: 2024, Zustand: wie neu (Ausstellungsmaschine), Funktionsfähigkeit: voll funktionsfähig, Das JCM-7000 verknüpft einfachste Probennavigation mit einer Vielzahl fortschrittlicher Autofunktionen. Eine große Probenkammer, hohe Auflösung und ein zuschaltbarer Niedervakuummodus für nichtleitende Proben machen das Desktop-REM zu einem mobilen Allround-Talent. Eigenschaften: • SE-/BSE-Detektion • Vergrößerung bis x100.000, Auflösung ca. 8nm • Niedervakuum-Betrieb für nicht-leitfähige Proben • Hard- und Software-integriertes EDX-System zur Elementcharakterisierung • Live-Elementanalyse, Live-Abbildung (inkl. 3D-Abbildung / Topographie) Kodpfow Sm T Hsx Abxjdw • Intuitive Bedienung mit Rezepten, Autofunktionen, Bildmontagen, etc. • Große Kammer für Proben bis 80mm ∅ bzw. 50mm Höhe • Kompakt & mobil • Maße (Main Unit): 324 mm W x 586 mm D x 566 mm H

Zustand: defekter Ersatzteilträger (gebraucht), Funktionsfähigkeit: eingeschränkt funktionsfähig, Evex Global IIc. Rasterelektronenmikroskop mit Zubehör, Compact SEM Modell: CompactSEM Zubehör: Rechner/PC Trafo mit Schütz und Sicherung für 230/120V AC Vakuumpumpe Digital Q-Dot power supply Digital Beam interface Digital ADC/MCA Hinweis zum Zustand: Ursprünglich hatte das REM einen EDX/EDS- sowie EBSD-Sensor (Electron backscatter diffraction) an Board. Leider sind beide mittlerweile defekt. Kodpfx Ajuykamebxedw Der REM-Sensor ist funktionabel, ermöglicht aktuell aber keine Hochauflösenden Aufnahmen. Aufgrund dessen wird des REM als Ersatzteilspender angeboten.

Zustand: sehr gut (gebraucht), Hier bieten wir Ihnen ein Jeol Rasterelektronenmikroskop an. Jeol JSM-6490 Rasterelektronenmikroskop (PC-SEM) Modernes, hochauflösendes, digitales Rasterelektronenmikroskop mit neuentwickelter Elektronenoptik und intuitiver, graphischer Benutzeroberfläche (GUI) unter Microsoft WindowsXP Professional. Vergrößerungsbereich: 5 X - 300.000 X Beschleunigungsspannung 0.3 - 30 kV Wolframhaarnadel-Kathode (LaB6-Kathode optional) großer vollmotorisierter Probentisch mit euzentrlscher Kippung, inkl. Graphische Navigation auf dem Probenhalter Einfache Probennavigation durch Click-Center-Zoom Bildfeldgesteuerte Navigation Ober 2 Navigatoren Relative Koordinaten-Navigation Speichern und Wiederanfahren von Probenpositionen Einstellbares blldausschnittswelses Verfahren der Probenbühne Blldfeldkorrektur während der Rotation Uber rechner- gesteuerte euzentrische Rotation Bildfeldkorrektur während der KIppung Uber rechner- gesteuerte euzentrische Kippung Berechnung des möglichen Kippwinkels anhand der Probengeometrie automatische Fokus-NachfUhrung bei Verfahren der Probe in Z-Rlchtung Intelligente Limitschalter für die motorisierten Achsen Verfahrweg Probentisch: x=125mm Y=100mm z= 5 bis 80 mm (stuienlos) T= -10°C bis+ 90°C R= 360°C (endlos) Sekundärelektronen-Detektor für Hochvakuumbetrieb Neuartige, superkonische Objektivlinse garantiert höchte Bildauflösung auch bei großen Kippwinkeln Garantierte Auflösung Im SE-Bild: 3 nm bei 30 kV und 15 nm bei 1 kV Gleichzeitige Live-Bilddarstellung mehrerer Detektoren Einfache Probennavigation durch Cllck-Center-Zoom Leistungsfähige Funktionen zur Bildvermessung Movie-Funktion zur Aufnahme dynamischer Prozesse Vielseitige Probenkammer mit zahlreichen Erweiterungsmöglichkeiten:freie Flansche z. B. für EDX, WDX, EBSD, Kathodolumineszenz etc. Wartungs- und verschleißarmes, leises Pumpsystem bestehend aus Vorpumpe, vibrationsfreier Hochlelstungsdiffusionspumpe sowie elektromagnetischer Ventilsteuerung Umfangreiche Fehlerabsicherung gegen Fehlbedienung und Ausfall externer Medien Ergonomischer, höhenverstellbarer Systemtisch REM-Starterkit bestehend aus 2 Probenhaltern, Werkzeugsatz sowie 6 Ersatzkathoden Zusatzausstattung 2x ΜΡ-43100 (TMP) Turbomolekularpumpe anstelle der serienmäßigen Diffusionspumpe Bei Verwendung einer Turbomolekularpumpe wird für den Betrieb des REM kein Kühlwasser mehr benötigt. Weitere Ausstattung: PC zur Steuerung des REMs inkl. TFT Monitor ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-System EXTENDED Stickstofffreies, energiedispersives Röntgenanalysesystem inkl.: SDD-Detektor mit 127 eV oder besserer Energieauflösung Nachweis aller Elemente ab Bor Vibrationsfrei, wartungsfrei. Peltier gekühlt (stickstofffrei) Pulsprozessor TFT Monitor Spektrenmessung und Elementldentiflzlerung Vollautomatische, quantitative, standardfreie Elementanalyse Bildeinzug Superschnelles qualitatives LIneScan Superschnelles qualitatives Elementmapping Datenmanagment und -archivierungssystem Reporterstellung und Ergebnisausgabe Datenkommunikation Installation und Einweisung HyperMap Multipoint Analyse Bruker xFlash Detektor (SDD) mit Signalverarbeitungseinheit SVE III Typ: Jeol JSM-6490 Lieferumfang: (Siehe Fotos) Zustand: gebraucht / used Kdodpfxjmn Rcqj Abxew (Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!) Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.

Zustand: gebraucht, Zeiss Typ: EVO 50 XVP Die Instrumente der EVO-Produktfamilie kombinieren leistungsstarke Rasterelektronenmikroskopie mit einem intuitiven Bedienkonzept, das für erfahrene Anwender und Neulinge gleichermaßen gut geeignet ist. EVO kann dank seiner umfangreichen Optionen präzise auf Ihre Anforderungen abgestimmt werden, unabhängig davon, ob Sie im Bereich Biowissenschaften oder Materialwissenschaften oder in der routinemäßigen industriellen Qualitätskontrolle und Fehleranalyse tätig sind. Rasterelektronenmikroskop EVO 50 XVP, EDX von Oxford  Xplore 30 SDD-Detektor ohne N-Kühlung 05 / 2021 Maße: TxLxH 930 x 1930 x 1600 mm 30mm 2 Sensorgröße / Auflösung 129MnKa bei 100.000cps Von Bor - Califonium Software AZtec lite auf Windows 10 Mit Drift korrektur Analyser quali- quanti-Analyse Point ID Mapping Line-Scan Kdedsvvtnbjpfx Abxsw Dämpfungsystem inklusive jeder Behälter trägt 116kg/bar Betriebsstunden ca. 11.500 Std PC-Upgrade auf Windows 10  05/2021 Das Rasterelektronenmikroskop ist voll funktionsfähig. Gewicht 750 kg + 385 kg +150 kg Zustand: gebraucht / used (Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!) Bitte erfragen Sie vor Kauf die Transportmöglichkeiten. Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.