Prüfausrüstung gebraucht kaufen (2)

Baujahr: 2018, Zustand: sehr gut (gebraucht), 2018, unbenutzt, Ophir Optronics Spiricon Beamwatch BW-NIR-2-155, in Transportkoffer mit Zubehör. Ljdpfe Ad Adbex Ab Doru Wellenlängenbereich: 980 nm bis 1080 nm. Leistungsbereich: ca. 400 W bis > 100 kW. Minimale/maximale Strahlgröße: Misst typischerweise Fokusstrahlgrößen von ca. 155 μm bis ca. 2,75 mm.

Zustand: sehr gut (gebraucht), Baujahr: 2023, Funktionsfähigkeit: voll funktionsfähig, Sicherheitstester für Hochspannungsprüfplatz - EATON Sefelec 506-S Lsdoxqxt Ijpfx Ab Djru Das Gerät wurde 2023 angeschafft und befinden sich in einem TOP Zustand. Das Testgerät SEFELEC 506-S zur Prüfung der elektrischen Sicherheit, ein EATON-Modell der neuen Generation, basiert auf Komponenten der ARM-Dual Core Technologie und wird durch DSP gesteuert. Diese Technologie bietet dem Bediener optimale Stabilität und Wiederholbarkeit der Messungen. Die hohe Genauigkeit und die Messgeschwindigkeit sind auf die Anforderungen der Qualitätssicherung in der Produktion und in der Wareneingangskontrolle abgestimmt. Die Sequenzfunktion erleichtert den Betrieb der Prüfstation SEFELEC 506-S bei Integration in einen Prüfstand oder eine Testbank. Der 7”-Touchscreen der neuen SEFELEC-Modellreihe überzeugt durch einfache und intuitive Bedienung. - Standardanschlüsse: Ethernet / RS232 / USB / PLC - Optional: Schnittstelle IEEE488-2 - Doppelter Sicherheitskreis SIL2 - Automatische Auswahl der Messreihe - Sequenzmodus zur Kombination mehrerer aufeinanderfolgender Tests Spannungsfestigkeit bei 5kVAC 500VA und 6kVDC Erkennungsmodi am Stromschwellwert oder bei Stromschwankungen (ΔI) Burn-Funktionsmodus ohne Erkennung der Stromstärke Megohmmeter 200 GΩ, Prüfspannung von 20 VDC bis 1000 VDC Optional: 2TΩ-Reihe PE-Messung bei 32A - 8VAC, Messung 0 ... 1Ω Optional: Messstrom 50A Programmierbare Testrampen Anstieg, Hold, Abfall Mehrfachrampenmodus, bis zu 7 Stufen TFT-Touchscreen 7”, 16 Millionen Farben, zur Programmierung sowie zur Anzeige der laufenden Prüfungen und der Ergebnisse Integrierte ARM-Dual Core Control & Nand 3D Technologie für optimale Genauigkeit, Stabilität und Wiederholbarkeit Integrierte DSP ermöglichen höhere Testgeschwindigkeiten Großer interner Speicher zur Speicherung der Konfigurationen und Testergebnisse Entspricht komplett der Norm IEC 61010-2-034 (Sicherheitsbestimmungen für Prüf- und Messgeräte zur Isolationswiderstandsmessung und Prüfausrüstungen für die Spannungsfestigkeit) Ein Versand ist nach Rücksprache möglich. #8312-1