Rasterelektronenmikroskop (PC-SEM)
Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor

Name: Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Brand: Jeol
Price: 35000 EUR
Availability: InStock

Festpreis zzgl. MwSt.

35.000 €

Zustand

Gebraucht

Standort

Borken

Rasterelektronenmikroskop (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor

Daten zur Maschine

Maschinenbezeichnung:: Rasterelektronenmikroskop (PC-SEM)

Hersteller:: Jeol

Modell:: JSM-6490 Bruker XFlash Detektor

Zustand:: sehr gut (gebraucht)

Preis & Standort

Festpreis zzgl. MwSt.

35.000 €

Standort:: Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland

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Details zum Angebot

Inserat-ID:: A10874957

Referenznummer:: 23543

Aktualisierung:: zuletzt am 18.12.2025

Beschreibung

Typ: Jeol JSM-6490
Jeol JSM-6490 Rasterelektronenmikroskop (PC-SEM)
Modernes, hochauflösendes, digitales Rasterelektronenmikroskop
mit neuentwickelter Elektronenoptik und intuitiver,
graphischer Benutzeroberfläche (GUI) unter Microsoft Windows XP Professional.
Geräteausstattung einschließlich folgender Ausstattungsmerkmale:
Vergrößerungsbereich: 5 X - 300.000 X
Beschleunigungsspannung 0.3 - 30 kV
Wolframhaarnadel-Kathode (LaB6-Kathode optional)
großer vollmotorisierter Probentisch mit exzentrischer Kippung, inkl.
Graphische Navigation auf dem Probenhalter
Einfache Probennavigation durch Click-Center-Zoom
Bildfeldgesteuerte Navigation über 2 Navigatoren
Relative Koordinaten-Navigation
Speichern und Wiederanfahren von Probenpositionen
Einstellbares Bildausschnittverfahren der Probebühne
Csdpfx Ajmn Rcqshzsgu
Blldfeldkorrektur während der Rotation über rechnergesteuerte exzentrische Rotation
Bildfeldkorrektur während der Kippung über rechnergesteuerte exzentrische Kippung
Berechnung des möglichen Kippwinkels anhand der Probengeometrie
Automatisches Fokus-Nachführen bei Verfahren der Probe in Z-Richtung
Intelligente Limit Schalter für die motorisierten Achsen
Verfahrweg Probentisch:
x=125mm
Y=100mm
z = 5 bis 80 mm (stufenlos)
T = -10°C bis+ 90°C
R= 360°C (endlos)
Sekundärelektronen-Detektor für Hochvakuumbetrieb
Neuartige, superkonische Objektivlinse garantiert höchste
Bildauflösung auch bei großen Kippwinkeln
Garantierte Auflösung Im SE-Bild: 3 nm bei 30 kV und
15 nm bei 1 kV
Gleichzeitige Live-Bilddarstellung mehrerer Detektoren
Einfache Probennavigation durch Click-Center-Zoom
Leistungsfähige Funktionen zur Bildvermessung
Movie-Funktion zur Aufnahme dynamischer Prozesse
Vielseitige Probenkammer mit zahlreichen
Erweiterungsmöglichkeiten: freie Flansche z. B. für EDX, WDX,
EBSD, Kathodolumineszenz etc.
Wartungs- und verschleißarmes, leises Pumpsystem
bestehend aus Vorpumpe, vibrationsfreier hochleistungsdiffusionspumpe
sowie elektromagnetischer Ventilsteuerung
Umfangreiche Fehlerabsicherung gegen Fehlbedienung
und Ausfall externer Medien
Ergonomischer, höhenverstellbarer Systemtisch
REM-Starterkit bestehend aus 2 Probenhaltern,
Werkzeugsatz sowie 6 Ersatzkathoden
Zusatzausstattung für Rasterelektronenmikroskop
Turbomolekularpumpe
anstelle der serienmäßigen Diffusionspumpe
Bei Verwendung einer Turbomolekularpumpe wird für den
Betrieb des REM kein Kühlwasser mehr benötigt.
Weitere REM-Ausstattung:
PC zur Steuerung des REMs
inkl. TFT-Monitor
ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-System EXTENDED
Bruker EDX Software wird nach Kauf an den neuen Eigentümer übertragen!
Stickstofffreies, energiedispersives Röntgenanalysesystem
inkl.:
SDD-Detektor mit 127 eV oder besserer Energieauflösung
Nachweis aller Elemente ab Bor
Vibrationsfrei, wartungsfrei. Peltier gekühlt (stickstofffrei)
Pulsprozessor
TFT-Monitor
Spektren Messung und Elementidentiflzlerung
Vollautomatische, quantitative, standardfreie
Elementanalyse
Bildeinzug
Superschnelles qualitatives Line Scan
Superschnelles qualitatives Elementmapping
Datenmanagment und -archivierungssystem
Reporterstellung und Ergebnisausgabe
Datenkommunikation
Installation und Einweisung
HyperMap
Multipoint Analyse
Bruker xFlash Detektor (SDD) mit Signalverarbeitungseinheit SVE III
Lieferumfang: (Siehe Fotos)
Zustand: gebraucht / used
(Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!)

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